CPM-028
規格
Unit : mm
| Materials and finishes | ||
| 頭針 | SK4 / Au Plated | |
| 尾針 | Be Cu / Au Plated | |
| 針管 | P.B. / Au Plated | |
| 彈簧 | SUS / Au Plated | |
| Mechanical | ||
| 彈力 | 20grams @0.65mm | |
| 最大行程 | 1.0mm | |
| 建議行程 | 0.65mm | |
| 使用壽命 | 200K | |
| 頻寬 | -0.105dB@20GHz | |
| Electrical | ||
| 額定電流 | 1A | |
| 接觸電阻 | <100mΩ | |
該探頭由各種組件組成，每個組件都因其獨特的屬性和功能而被選擇。頂部柱塞由 SK4 製成，這是一種以其強度和耐用性而聞名的高碳工具鋼。它通過鍍金進一步增強，可提高導電性並防止腐蝕。底部柱塞由 Be Cu（鈹銅）製成，並鍍金，確保出色的電接觸和長期可靠性。套筒由 PB（磷青銅）製成並鍍金，可提供最佳的導電性和抗氧化保護。彈簧由 SUS（不銹鋼）製成，還鍍金，具有耐用性和耐腐蝕性。
機械規格方面，探頭在0.65mm處施加20克的彈簧力。該力可確保與被測半導體器件的可靠且一致的接觸，從而促進精確測量。探頭的全行程為1.0mm，表示測試時所能達到的最大位移。建議的行程距離為 0.65 毫米，代表精確可靠測試的最佳操作範圍。
該探頭設計可承受嚴格的測試條件，機械壽命為 200K 次循環。延長的使用壽命確保了探頭在多次測試操作中的使用壽命和可靠性。
在電氣規格方面，該探頭的額定電流為 1A，表明其能夠在不影響性能的情況下處理更高的電流。測得接觸電阻小於100mΩ，代表探頭電接觸的阻抗。這種低接觸電阻可確保半導體測試期間最小的信號損失和準確的測量。
該探頭還展示了令人印象深刻的帶寬性能，在 20GHz 時測得的衰減為 -0.105dB。這一特性可確保最小的信號損失和準確的測量，特別是在高頻測試場景中。